دوره 7، شماره 2 - ( 1395 )                   جلد 7 شماره 2 صفحات 50-40 | برگشت به فهرست نسخه ها

XML English Abstract Print


Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:

Naderi Sohi A. A comparative study on utility of Scanning Electron Microscopy and Atomic Force Microscopy for topological investigation of electrospun nanofibers as the cell culture scaffolds. JMBS 2016; 7 (2) :40-50
URL: http://biot.modares.ac.ir/article-22-8451-fa.html
نادری سهی علیرضا، نادری منش حسین، سلیمانی مسعود. مقایسه کارکرد میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) و میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) در بررسی توپوگرافی نانوالیاف مورد استفاده بعنوان بستر کشت سلول. زیست‌فناوری مدرس. 1395; 7 (2) :40-50

URL: http://biot.modares.ac.ir/article-22-8451-fa.html


1- دانشجوی دکترای تخصصی نانوبیوتکنولوژی، دانشکده علوم زیستی، دانشگاه تربیت مدرس،
2- استاد گروه های بیوفیزیک و نانوبیوتکنولوژی، دانشکده علوم زیستی، دانشگاه تربیت مدرس، تهران
3- دانشیار گروه هماتولوژی، دانشکده علوم پزشکی، دانشگاه تربیت مدرس، تهران
چکیده:   (14176 مشاهده)
با توجه به یافته های جدید، نقش نانوتوپوگرافی ریزمحیط سلول بر عملکرد و سرنوشت آن، بیش از پیش اهمیت یافته است. از این رو، تهیه نانوساختارهای زیست سازگار بعنوان بستر کشت سلول و در مرحله بعد، تعیین دقیق ویژگی های فیزیکی و هندسی آن ها مورد توجه پژوهشگران قرار گرفته است. در این راستا هرچند میکروسکوپ نیروی اتمی، در تعیین خصوصیات نانوالگو(Nanopattern) های مورد استفاده برای کشت سلول، کاربردی گسترده یافته، اما توانایی های آن برای مطالعه ساختار نانوالیاف الکتروریسی شده (Electrospun nanofibers) بطور جدی مطالعه نشده است. در تحقیق حاضر، نانوالیاف زیست سازگار کیتوزان که با فناوری الکتروریسی تولید و بهینه شده بودند، با میکروسکوپ های الکترونی روبشی (SEM) و میکروسکوپ نیروی اتمی(AFM) مورد بررسی قرار گرفته، داده های حاصل از هر یک ارزیابی شدند. نتایج حاصله بیانگر این واقعیت بود که استفاده از هر کدام از این دو میکروسکوپ، مزایا و معایبی خواهد داشت. بعنوان اولین نکته، در حالی که فرآیند های آماده سازی و روبش نمونه در SEM می تواند سبب تخریب ساختار طبیعی الیاف گردد، AFM به هیچگونه تیمار نمونه نیازی ندارد. در حالی که مهمترین کاربردهای SEM در بررسی ساختارهای نانوفیبری شامل بررسی سریع شکل، جهت گیری، قطر و یکنواختی الیاف است، تصویربرداری سه بعدی با AFM، تعیین درجه زبری سطح، درجه زبری در طول لیف و تعیین ضخامت بافت تولید شده را ممکن می سازد. علاوه بر این، با رعایت پاره ای ملاحظات تکنیکی، AFM می تواند در تخمین قطر میانگین نانوالیاف، به خوبی SEM عمل نماید.
متن کامل [PDF 1957 kb]   (10471 دریافت)    
نوع مقاله: مقاله استخراج شده از پایان نامه | موضوع مقاله: بیو فیزیک
دریافت: 1394/3/26 | پذیرش: 1394/11/17 | انتشار: 1395/7/1

ارسال نظر درباره این مقاله : نام کاربری یا پست الکترونیک شما:
CAPTCHA

بازنشر اطلاعات
Creative Commons License این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است.